I. Pengenalan Pameran
Pameran Sensor+Uji Nuremberg 2024 (SENSOR+TEST 2024) diadakan di Pusat Pameran Internasional Nuremberg di Jerman dari tanggal 11 hingga 13 Juni. Pameran ini diselenggarakan oleh Asosiasi Sensor dan Teknologi Pengukuran Jerman (AMA). Sejak tahun 1982, pameran ini telah berhasil diselenggarakan selama 23 sesi dan telah menjadi salah satu pameran paling profesional dan terbesar di dunia dalam hal sensor serta teknologi pengujian dan pengukuran.
Pameran ini menarik 383 perusahaan dari 29 negara dan kawasan untuk berpartisipasi dalam pameran, dengan lebih dari 5.000 pengunjung profesional. Selain Jerman, negara-negara dengan peserta pameran terbanyak adalah Tiongkok, Amerika Serikat, Swiss, Inggris Raya, dan Prancis. Pameran ini mempertemukan produsen sensor dan teknologi pengujian terkemuka dunia, seperti Honeywell, Acal, PCB Piezotronics, Endress+Hauser, Safran Sensing, dll. Perusahaan domestik seperti Henan Hanwei, Xi'an Zhongxing, Shenzhen Amperon, Hangzhou Melake juga berpartisipasi dalam pameran tersebut.
Ⅱ.Informasi Pameran
Pameran utama perusahaan meliputi sensor analog universal, sensor arus Hall, sensor parameter listrik DC gabungan, sensor tegangan tinggi dan isolasi tinggi, meteran energi DC, dan sensor universal.
Pameran ini diselenggarakan dari tanggal 11 hingga 13 Juni selama tiga hari. Pelanggan yang datang sebagian besar adalah pimpinan perusahaan, tenaga pemasaran, teknisi, dan tenaga pembelian.
Pameran ini tidak hanya memamerkan sensor dan teknologi pengujian dan pengukuran terkini, tetapi juga menyediakan platform komunikasi dan kerja sama yang tak tertandingi bagi para insinyur, personel R&D, pemasar, dan pengambil keputusan industri di seluruh dunia. Kami berharap dapat bertemu Anda di pameran mendatang untuk bersama-sama mengeksplorasi dan menciptakan lebih banyak teknologi sensor. Mari kita maju bersama, didorong oleh inovasi dan dijembatani oleh kerja sama, untuk bersama-sama menyambut masa depan yang lebih cemerlang di bidang sensor dan teknologi pengujian dan pengukuran.
